
Nanoscope Analysis功能介绍
1、分析功能分析函数关系到分析在实时模式中捕获的图像的表面行为。这些命令称为图像处理或分析命令。这些命令包含用于分析、修改和存储收集到的数据的视图、选项和配置。分析可以是自动化的(也可以是自动程序)或者手工完成。一般来说,分析命令提供了量化样品表面特性的方法
2、二维图像
二维图像分析以二维的角度显示所选图像的颜色编码高度信息。二维图像分析是对纳米范围分析的默认分析,当图像最初被打开时,它总是在二维图像中呈现。
3、轴承的分析
轴承分析提供了一种绘制和分析样品表面高度分布的方法。轴承分析可应用于整个图像,或对图像的选定区域,使用橡胶带箱。此外,选择区域内的区域可以通过使用“停止带”来移除分析中的多余数据。
4、深度
为了分析特征的深度,你有众多的选择来测量不同高度的两个主要特征之间的高度差。深度分析主要是为自动比较两个相似的样本站点的特征深度而设计的(例如,在分析大量相同硅晶片的腐蚀深度时)。
软件亮点
1、表面拓扑图像重建Nanoscope Analysis可以将从扫描探针显微镜获取的数据转换为高分辨率的表面拓扑图像。这些图像可以显示样品表面的形貌和拓扑结构。
2、原子分辨成像
该软件可以实现原子级分辨率的成像,使研究人员能够观察和分析纳米尺度上的原子排列和表面结构。
3、表面力谱学
Nanoscope Analysis还可以进行表面力谱学分析,通过测量和分析扫描探针显微镜在样品表面施加的力,来研究材料的力学性质和表面力学行为。
4、电学特性分析
该软件还可以用于电学特性的研究,包括电导率、电容和电势分布等相关参数的测量和分析。